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光學(xué)熱膨脹儀比傳統(tǒng)膨脹儀相比的優(yōu)勢(shì)盡在本篇
更新時(shí)間：2022-06-24 點(diǎn)擊次數(shù)：4851
光學(xué)熱膨脹儀采用陰影光的方法進(jìn)行樣品測(cè)定。通過(guò)測(cè)量CCD探測(cè)器上樣品的陰影來(lái)測(cè)量一個(gè)方向上樣品的尺寸的大小。
高強(qiáng)度的LED光束發(fā)出平面光，通過(guò)一個(gè)擴(kuò)散單元和準(zhǔn)直透鏡，產(chǎn)生高度均勻的、短波平面光。該光的一部分被樣品阻擋。
有陰影的光束通過(guò)遠(yuǎn)心光學(xué)系統(tǒng)進(jìn)行精細(xì)處理，并由高分辨率的CCD探測(cè)器記錄。數(shù)字邊緣檢測(cè)自動(dòng)確定陰影的寬度，進(jìn)而測(cè)定樣品的尺寸。
與傳統(tǒng)膨脹儀相比，光學(xué)熱膨脹儀采用聚焦LED光束，樣品的平面性及表面粗糙度不會(huì)對(duì)測(cè)量精度造成顯著影響，這樣能夠顯著簡(jiǎn)化樣品制備過(guò)程。儀器使用非接觸式測(cè)量，允許樣品自由膨脹及收縮，不會(huì)受到機(jī)械接觸引起的干擾。
光學(xué)熱膨脹儀的性分析如下：
因?yàn)闆](méi)有直接施加負(fù)載到樣品上，因此即便是柔軟的材料也可以獲得的測(cè)量精度。
包括薄膜，或質(zhì)地柔軟測(cè)量或在實(shí)驗(yàn)過(guò)程中發(fā)生軟化的材料。
由于與測(cè)量系統(tǒng)無(wú)物理接觸，進(jìn)一步提高了溫度均勻性。頂桿可以作為散熱件，在與樣品接觸點(diǎn)處產(chǎn)生熱點(diǎn)或冷點(diǎn)。而DIL806是沒(méi)有這些接觸點(diǎn)，確保了整個(gè)樣品在整個(gè)實(shí)驗(yàn)過(guò)程中溫度的均勻，無(wú)需考慮實(shí)驗(yàn)中的溫度分布。
廣泛的測(cè)量面積大大簡(jiǎn)化了樣品位置。儀器的測(cè)量面積，寬30毫米，在這個(gè)范圍內(nèi)的任何位置放置樣品，儀器均能表現(xiàn)出的工作性能。這樣就簡(jiǎn)化了樣品裝載，去除樣品位置的嚴(yán)格限制。
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